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芯片是LED最關(guān)鍵的一環(huán)，直接決定了LED的性能。特別是用于汽車或固態(tài)照明設(shè)備的高端LED，**不容許產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)缺陷，對(duì)此類設(shè)備的可靠性要求非常高。LED芯片的受損會(huì)直接導(dǎo)致LED失效，芯片電極在焊接過(guò)程中容易產(chǎn)生質(zhì)量缺陷，芯片電極本身蒸鍍不牢靠，導(dǎo)致焊線后電極脫落或損傷，芯片電極本身可焊性差，會(huì)導(dǎo)致焊球虛焊。
在生產(chǎn)過(guò)程中，任何微小的差異都會(huì)直接影響發(fā)光二極管封裝的質(zhì)量。為了提高產(chǎn)品的封裝質(zhì)量，有必要在每個(gè)生產(chǎn)過(guò)程中檢測(cè)芯片封裝質(zhì)量，以最大限度地控制劣質(zhì)產(chǎn)品和廢品。發(fā)光二極管封裝廠將使用X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)芯片材料。防止劣質(zhì)芯片入庫(kù)，避免芯片質(zhì)量問(wèn)題造成的燈珠整體損失。
從發(fā)光二極管的封裝工藝流程來(lái)看，在芯片的擴(kuò)張、備膠和點(diǎn)晶過(guò)程中，可能會(huì)對(duì)芯片造成損壞，影響發(fā)光二極管的所有光和電特性。然而，在支架的固定晶體和壓焊過(guò)程中，可能會(huì)出現(xiàn)芯片錯(cuò)位、內(nèi)電極接觸不良、外電極引線虛焊或焊接應(yīng)力。芯片錯(cuò)位影響輸出光場(chǎng)的分布和效率，而內(nèi)外電極接觸不良或虛焊會(huì)增加發(fā)光二極管的接觸電阻。在灌裝和環(huán)氧固化過(guò)程中，可能會(huì)產(chǎn)生氣泡和熱應(yīng)力，影響發(fā)光二極管的輸出光效率。
采用X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)封裝后的LED，可直觀地看到其內(nèi)部焊接、錯(cuò)位等缺陷。X-RAY檢測(cè)系統(tǒng)的基本原理是X射線的穿透性，這與其它化學(xué)物質(zhì)不同，它是依據(jù)光學(xué)原理，如果LED燈條中的線繞保險(xiǎn)絲存在缺陷，則會(huì)改變物體對(duì)射線的衰減，導(dǎo)致X-RAY檢測(cè)裝置射線強(qiáng)度的改變，當(dāng)線繞保險(xiǎn)絲內(nèi)部發(fā)生拉伸或斷裂時(shí)，有缺陷的X射線強(qiáng)度要高于無(wú)缺陷的X射線強(qiáng)度。X-RAY檢測(cè)可以通過(guò)穿透樣品，檢測(cè)樣品內(nèi)部缺陷，這是目前非破壞檢測(cè)內(nèi)部缺陷效率和快捷的方法。
由于LED芯片/器件封裝的小型、精細(xì)及復(fù)雜特性，常規(guī)的檢測(cè)方法幾乎難以實(shí)現(xiàn)封裝中的質(zhì)量檢測(cè)，而采用X-ray檢測(cè)技術(shù)不破壞產(chǎn)品整體結(jié)構(gòu)就能觀察到內(nèi)部缺陷，是很有必要的檢測(cè)手段。在批量生產(chǎn)的過(guò)程中，X-Ray檢測(cè)能夠根據(jù)產(chǎn)線需求，定制接駁臺(tái)，進(jìn)行在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)LED 100%檢測(cè)，減少人工干預(yù)，提高了檢測(cè)效率。
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